高溫高壓蒸煮儀有哪些失效時期？

點擊次數：157 發(fā)布時間：2022-09-27

　　高溫高壓蒸煮儀主要是將待測品置于嚴苛之溫度、飽和濕度（100%R.H.）、飽和水蒸氣及壓力環(huán)境下測試，測試代測品耐高濕能力，針對印刷線路板，用來進行材料吸濕率試驗、高壓蒸煮試驗等試驗目的。
　　
　　如果待測品是半導體的話，則用來測試半導體封裝之抗?jié)駳饽芰?，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。
　　
　　高溫高壓蒸煮儀由一個壓力容器組成，壓力容器包括一個能產生100%潤濕環(huán)境的水加熱器，待測品經過PINDAR品達環(huán)試PCT試驗所出現的不同失效可能是大量水氣凝結滲透所造成的。
　　
　　一、澡盆曲線：
　　
　　澡盆曲線，又用稱為浴缸曲線、微笑曲線，主要是顯示產品的于不同時期的失效率，主要包含早夭期（早期失效期）、正常期（隨機失效期）、損耗期（退化失效期），以環(huán)境試驗的高溫高壓蒸煮儀來說得話，可以分為篩選試驗、加速壽命試驗（耐久性試驗）及失效率試驗等。進行可靠性試驗時"試驗設計"、"試驗執(zhí)行"及"試驗分析"應作為一個整體來綜合考慮。
　　
　　二、常見失效時期：
　　
　　早期失效期（早夭期，InfantMortalityRegion）：不夠完善的生產、存在缺陷的材料、不合適的環(huán)境、不夠完善的設計。
　　
　　隨機失效期（正常期，UsefulLifeRegion）：外部震蕩、誤用、環(huán)境條件的變化波動、不良抗壓性能。
　　
　　退化失效期（損耗期，WearoutRegion）：氧化、疲勞老化、性能退化、腐蝕。